電學(xué)測試

探針冷熱臺 又可以叫 電學(xué)冷熱臺，是一款針對研究樣品變溫 電學(xué)測試 而設計的產(chǎn)品，可表征樣品電學(xué)性能隨溫度變化的特征。

探針冷熱臺（電學(xué)冷熱臺） 是在光學(xué)冷熱臺基礎上，增加了一個(gè)電學(xué)模塊。通過(guò)在測試過(guò)程中移動(dòng)探針，可以使針尖與樣品表面的任何區域接觸。電信號通過(guò)連接到針座的導線(xiàn)傳輸到儀器（如源表、萬(wàn)用表等）進(jìn)行電學(xué)測試，并分析材料在可變溫度下的電學(xué)特性。果果儀器 探針冷熱臺（電學(xué)冷熱臺）探針有腔內手動(dòng)調節、腔內電動(dòng)調節、腔外手動(dòng)調節等不同型號，可以根據測試需要選擇。電學(xué)冷熱臺支持定制探針/電學(xué)接口等。

產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實(shí)現-190~600℃（選型）或RT~1500℃（選型）范圍內精準控制，與其他電學(xué)儀表 （如電橋、源表 、 萬(wàn)用表）搭配集成，進(jìn)行變溫原位測試。

探針冷熱臺包含溫度控制器 、 致冷控制器、循環(huán)水等控制系統，使用溫控軟件方便進(jìn)行溫度設置及采集，并提供的Labview Vis/C# SDK方便客戶(hù)進(jìn)行定制化編程。

探針冷熱臺默認為腔室內部手動(dòng)調節探針冷熱臺，需要放置好樣品，手動(dòng)固定調節探針位置，蓋上上蓋然后進(jìn)行相關(guān)測試。

探針冷熱臺ECH600S

探針冷熱臺ECH600T

產(chǎn)品特點(diǎn)：

1.溫度范圍：-190~600℃（選型）/RT~1600℃

2.溫度穩定性：±0.1℃/±1.0℃

3.溫度分辨率：0.1℃

4.升降溫速度：0~30℃/min

5.氣密性：氣密腔室設計，可升級真空腔室（10^(−3) mBar）

6.ECH600S內置4個(gè)磁吸探針，可另外放置測試位置；ECH600T配置四個(gè)固定式鍍金探針和4個(gè)磁吸探針。探針數量可定制。

超高溫探針熱臺H1000

產(chǎn)品特點(diǎn)：

1.溫度范圍：RT~1000℃（選型）

2.溫度穩定性：±0.1℃（<600℃），±1℃（>600℃）

3.升降溫速度：0~30℃/min

電動(dòng)位移探針冷熱臺是腔室內部電動(dòng)調節探針冷熱臺，需要放置好樣品后蓋上上蓋，通過(guò)上位機軟件電動(dòng)調節探針位置，然后進(jìn)行相關(guān)測試。

電控位移探針冷熱臺（納米級）

產(chǎn)品特點(diǎn)：

1.溫度范圍：-190~400℃；

2.納米級控制精度探針；

3.探針位移精度：5nm；

4.XYZ位移行程±6mm；

5.電動(dòng)控制，結構緊湊，適用真空環(huán)境。

外部調節探針冷熱臺可通過(guò)外部位移臺調節探針位置，方便測試中隨時(shí)調節。外部調節探針冷熱臺有兩款位移臺可選擇，2款位移精度和外觀(guān)尺寸稍有差異，可以根據需要選擇。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

1.溫度范圍：-190~400℃（可選半導體冷熱方式：-25~120℃）

2.通過(guò)外部位移臺調節探針

3.XYZ位移行程±6.5mm

4.探針位移精度：1μm

產(chǎn)品特點(diǎn)：

1.溫度范圍：-25~120℃（可選液氮致冷方式：-190~400℃）

2.通過(guò)外部位移臺調節探針

4.XYZ位移行程更大，默認配置±6.5mm，可定制，詳情咨詢(xún)客服

5.探針位移精度：10μm

6.尺寸更緊湊